应用拓扑指数预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度

作者:丁伟,刘先军,李国忠,于涛 时间:2005-01-01 点击数:

丁伟,刘先军,李国忠,于涛

  • 1:大庆石油学院化学化工学院

  • 2:大庆石油学院化学化工学院

  • 3:大庆石油管理局大庆油田精细化工厂

  • 4:大庆石油学院化学化工学院 黑龙江大庆163318

摘要(Abstract):

用拓扑方法研究了阴离子表面活性剂临界胶束浓度cm 与分子结构的关系. 根据分子结构的特点,用距离矩阵表征分子中原子的连接性,据此建立了结构基础明确的模型. 应用该模型预测了不同结构阴离子表面活性剂的 cm,结果表明,预测值满足精度要求,相关因数为0.998 1. 应用该模型,不仅能够合理表征阴离子表面活性剂的结构-性能关系,而且有助于揭示物质结构与性能之间的关系.

关键词(KeyWords):拓扑指数;定量结构-性能相关;临界胶束浓度;阴离子表面活性剂;结构参数

Abstract:

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基金项目(Foundation):国家973基础研究项目(G1999902500)

作者(Author):丁伟,刘先军,李国忠,于涛

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